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供應上海平板電腦可靠性測試

平板電腦的可靠性測試之環(huán)境試驗  呂先生 手機：15021194623   QQ：1358842625

模擬平板電腦使用的各種惡劣環(huán)境及可靠性評估，測試其性能是否達到要求；可靠性測試主要包括高低溫操作與高低溫儲存、溫度與結露、溫度循環(huán)與沖擊、濕熱組合性試驗、紫外線、太陽光、滴水、沙塵、鹽霧等測試。

平板電腦可靠性測試-環(huán)境試驗
平板計算機是一個具有強大行動力的電子產品，隨處可見它的蹤影(象是候車站、火車、高鐵、咖啡館、餐廳、人行道、會議室、郊外..等)，平板計算機在攜帶使用時只有簡易外套保護或甚至沒有，為了方便使用，設計縮小尺寸，這樣一來可以直接放在口袋里或手提包、背包，但平版計算機在移動的過程當中也會經歷到許多環(huán)境物理量的變化(如溫度、濕度、振動、沖擊、擠壓..等)以及自然破壞(象是紫外線、太陽光、沙塵、鹽霧、水滴..等)，也會造成人為的非故意傷害或不正常當機及誤動作，甚至造成故障與破壞(例如：生活化學用品、手汗、跌落、端子插拔過當、口袋摩擦、水晶指甲..等)，這些都會縮短平板計算機的壽命，為了確保產品可靠度以及延長使用壽命提高，我們必須對平板計算機進行多項環(huán)境可靠度試驗項目，以下提出相關測試給您參考。
環(huán)境試驗項目說明：
模擬平板計算機使用的各種惡劣環(huán)境及可靠性評估，測試其性能是否達到要求；主要包括高低溫操作與高低溫儲存（高低溫試驗箱）、溫度與結露（冷凝水試驗機）、溫度循環(huán)與沖擊（高低溫沖擊試驗機）、濕熱組合性試驗（高低溫濕熱試驗箱、紫外線（UV老化箱）、太陽光（氙燈耐氣候試驗箱）、滴水（淋雨試驗箱、沙塵(防塵試驗箱）、鹽霧（鹽霧試驗機）等測試及設備。
操作溫度范圍：0℃～35℃/5%～95%RH
儲存溫度范圍：-10℃～50℃/10%～90%RH
操作低溫試驗：-10℃/2h/通電運轉
操作高溫試驗：40℃/8h/通通運轉
儲存低溫試驗：-20℃/96h/關機
儲存高溫試驗：60℃/96h/關機
車載儲存高溫試驗：85℃/96h/關機
溫度沖擊：-40℃(30min)←→80℃(30min)/10cycle
濕熱試驗：40℃/95%R.H./48h/通電待機
濕熱循環(huán)試驗：40℃/95%R.H./1h→ramp:1℃/min→-10℃/1h，20cycles，通電待機