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平頂山晶粒度檢測(cè)金相測(cè)試
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晶粒度
 表征了晶粒尺寸的大小，晶粒尺寸越小，晶粒度越大。通常情況下，在穩(wěn)態(tài)下晶粒尺寸大小與材料的


屈服強(qiáng)度符合hell-pitch關(guān)系，即晶粒尺寸越小，強(qiáng)度、硬度也越大。此外，晶粒尺寸對(duì)金屬材料的耐


腐蝕性能也有影響。
晶粒度測(cè)試方法
比較法
 比較法不需要計(jì)算任何晶粒、截點(diǎn)、截距。與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖（標(biāo)準(zhǔn)掛圖，目鏡插片）進(jìn)行比較。用比


較法評(píng)估晶粒度時(shí)一般存在一定的偏差±0.5級(jí)，評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級(jí)。
面積法
 面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)的晶粒個(gè)數(shù)，利用單位面積內(nèi)晶粒數(shù)來(lái)確定晶粒度級(jí)別。面積法測(cè)定結(jié)果是


無(wú)偏差的，精確度±0.25級(jí)，評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性小于0.5級(jí)。
截點(diǎn)法
 截點(diǎn)法是計(jì)算已知長(zhǎng)度的試驗(yàn)線段（或網(wǎng)格）與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長(zhǎng)度截點(diǎn)數(shù)


來(lái)確定晶粒度級(jí)別。截點(diǎn)法的精確度是計(jì)算的截點(diǎn)或截矩的函數(shù)，通過(guò)有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果精確度可達(dá)到


±0.25級(jí)，評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性小于0.5級(jí)。
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