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詹先生；13590200716 開(kāi)短路測(cè)試（又稱(chēng)OPEN/SHORT 測(cè)試，O/S測(cè)試），主要是用于測(cè)試電子器件的連接情況，顧名思義，開(kāi)短路測(cè)試就是測(cè)試開(kāi)路與短路，具體點(diǎn)說(shuō)就是測(cè)試一個(gè)電子器件應(yīng)該連接的地方是否連接，如果沒(méi)有連接上就是開(kāi)路，如果不應(yīng)該連接的地方連接了就是短路。 用途： 開(kāi)短路測(cè)試應(yīng)用非常的廣泛，例如：測(cè)試PCB板，測(cè)試IC邦定線，測(cè)試IC的封裝，測(cè)試線材，測(cè)試FPC，測(cè)試薄膜開(kāi)關(guān)，測(cè)試連接器等等，不同的應(yīng)用又有比較特別的需求，例如，測(cè)試PCB板是不僅要測(cè)試開(kāi)短路，還要測(cè)試漏電，測(cè)薄膜開(kāi)關(guān)還要測(cè)試連線的電阻值；對(duì)于線材測(cè)試儀，比較精密的線材根據(jù)要求，有些也要測(cè)試漏電與阻值及其他的要求，由于這些測(cè)試不僅要測(cè)試開(kāi)短路，還要測(cè)試其他的參數(shù)，因此都有專(zhuān)用的儀器，如ICT，薄膜開(kāi)關(guān)測(cè)試儀，線材測(cè)試儀等。 詞意變化： 如果沒(méi)有特別的指出，所謂的開(kāi)短路測(cè)試，都是指測(cè)試邦定線的開(kāi)短路測(cè)試，IC的開(kāi)短路測(cè)試，例如“開(kāi)短路測(cè)試儀”指的就是測(cè)試邦定/IC開(kāi)短路的儀器，當(dāng)然所處的行業(yè)不同，在不同的行業(yè)中，說(shuō)開(kāi)短路測(cè)試就是指的這個(gè)行業(yè)的產(chǎn)品的開(kāi)短路測(cè)試，如果是一間PCB廠，說(shuō)要