環(huán)宇檢測(cè)技術(shù)有限公司

環(huán)宇檢測(cè)專業(yè)提供表面粗糙度測(cè)試，歡迎來(lái)電咨詢銀先生13510276017 QQ1874675074.
表面粗糙度測(cè)試方法：
比較法         將被測(cè)量表面與標(biāo)有一定數(shù)值的粗糙度樣板比較來(lái)確定被測(cè)表 面粗糙度數(shù)值的方法。   比較時(shí)可以采用的方法:    Ra > 1.6μm 時(shí) 目測(cè)        Ra1.6~Ra0.4μm 時(shí)用 放大鏡    Ra < 0.4μm 時(shí)用比較顯微鏡。       注：比較時(shí)要求樣板的加工方法，加工紋理，加工方向，材料與被測(cè)零件表面相同。       特點(diǎn)：該方法測(cè)量簡(jiǎn)便，使用于車間現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，常用于中等或較粗糙表面的測(cè)量。2、光切法         雙管顯微鏡測(cè)量表面粗糙度，可用作Ry與Rz參數(shù)評(píng)定，測(cè)量范圍0.5~50μm。 涉及的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有GB/T3505-09，GB/T6062-09，GB/T2523-2008.