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俄歇效應(yīng):可以檢測一些異物或者雜質(zhì)等成分分析，一般是只無機(jī)化學(xué)成分分析檢測，樣品只需要有0.5微米厚就可以了，很小的一點(diǎn)就可以了！如果異物或者雜質(zhì)是有機(jī)化合物的話，需要用顯微紅外來檢測。下面是俄歇也就是AES的測試方法！
俄歇效應(yīng)是原子發(fā)射的一個(gè)電子導(dǎo)致另一個(gè)或多個(gè)電子（俄歇電子）被發(fā)射出來而非輻射X射線（不能用光電效應(yīng)解釋），使原子、分子成為高階離子的物理現(xiàn)象，是伴隨一個(gè)電子能量降低的同時(shí)，另一個(gè)（或多個(gè)）電子能量增高的躍遷過程。以法國人Pierre Victor Auger的名字命名。   當(dāng)X射線或γ射線輻射到物體上時(shí)，由于光子能量很高，能穿入物體，使原子內(nèi)殼層上的束縛電子發(fā)射出來。當(dāng)一個(gè)處于內(nèi)層電子被移除后，在內(nèi)殼層上出現(xiàn)空位，而原子外殼層上高能級的電子可能躍遷到這空位上，同時(shí)釋放能量。一定的內(nèi)原子殼空位可以引起一個(gè)或多個(gè)俄歇電子躍遷。躍遷時(shí)釋放的能量將以輻射的形式向外發(fā)射。通常能量以發(fā)射光子的形式釋放，但也可以通過發(fā)射原子中的一個(gè)電子來釋放，被發(fā)射的電子叫做俄歇電子。被發(fā)射時(shí)，俄歇電子的動(dòng)能等于第一次電子躍遷的能量與俄歇電子的離子能之間的能差。這些能級的大小取決于原子類型和原子所處的化學(xué)環(huán)境。 
  俄歇電子譜，是用X射線或高能電子束來產(chǎn)生俄歇電子，測量其強(qiáng)度和能量的關(guān)系而得到的譜線。其結(jié)果可以用來識別原子及其原子周圍的環(huán)境。   俄歇復(fù)合是半導(dǎo)體中一個(gè)類似的俄歇現(xiàn)象：一個(gè)電子和空穴（電子空穴對）可以復(fù)合并通過在能帶內(nèi)發(fā)射電子來釋放能量，從而增加能帶的能量。其逆效應(yīng)稱作碰撞電離。 
  俄歇效應(yīng)作用是研究核子過程（如捕捉過程與內(nèi)轉(zhuǎn)換過程）的重要手段。同時(shí)從俄歇電子的能量與強(qiáng)度，可以求出原子或分子中的過渡幾率。反之，由已知能量的俄歇光譜線，可以校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換電子的能量。按照這一效應(yīng)，已制成俄歇電子譜儀，在表面物理、化學(xué)反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、冶金、電子等的領(lǐng)域內(nèi)進(jìn)行著高靈敏度的檢測與快速分析。   奧地利科學(xué)家Lise Meitner在1920年首先觀察到俄歇過程。1925年，Pierre Victor Auger在Wilson云室實(shí)驗(yàn)中采用高能X射線來電離氣體，并觀察到了光電子。對電子的測量分析表明其軌跡與入射光子的頻率無關(guān)，這表明電子電離的機(jī)制是原子內(nèi)部能量交換或無輻射躍遷；運(yùn)用基本量子力學(xué)計(jì)算出躍遷率和躍遷概率，以及進(jìn)一步的實(shí)驗(yàn)和理論研究表明，該效應(yīng)的機(jī)制是無輻射躍遷，而非內(nèi)部能量交換。