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[供應(yīng)]HIC測(cè)試GB/T8650
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：無(wú)錫
- 產(chǎn)品品牌：容大
- 包裝規(guī)格：GB/T 8650-2006
- 產(chǎn)品數(shù)量：1
- 計(jì)量單位：樣
- 產(chǎn)品單價(jià)：1
- 更新日期：2020-09-03 00:14:29
- 有效期至：2021-09-03
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HIC測(cè)試GB/T8650
詳細(xì)信息
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QQ：1318861383
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SSC：NACETM0177-2005；GB/T4157-2006。
HIC：NACETM0284-2011；GB/T8650-2006。
測(cè)試氫脆的方法有好幾種，常用的有往復(fù)彎曲試驗(yàn)和延遲破壞試驗(yàn)。
(1)往復(fù)彎曲試驗(yàn)往復(fù)彎曲試驗(yàn)對(duì)低脆性材料比較靈敏，可以用來(lái)對(duì)不同基體材料在經(jīng)過(guò)相同的電鍍工藝處理后的氫脆程度進(jìn)行比較，也可以對(duì)相同的基體材料上的不同電鍍工藝的氫脆程度進(jìn)行比較。這種試驗(yàn)的方法是取一個(gè)待測(cè)試片，其尺寸規(guī)格為：150mm×l3mm×l.5mm，表面粗糙度Ra=1.6。對(duì)試片進(jìn)行熱處理使之達(dá)到規(guī)定的硬度，然后用往復(fù)彎曲機(jī)讓試片在一定直徑的軸上以一定的速度進(jìn)行緩慢的彎曲試驗(yàn)，直至試片斷裂。彎曲方式有90。往復(fù)彎曲和l80。單面彎曲兩種，以前一種方式應(yīng)用較多，彎曲的速度是0．6.／s。如果是單面彎曲則所取的速度則為0．13。／s。評(píng)價(jià)的方法是將彎曲試驗(yàn)至斷裂時(shí)的次數(shù)乘以角度，以獲得彎曲角度的總和，其角度總值越大，氫脆越小。
測(cè)試時(shí)要注意以下幾點(diǎn)。
①試片在進(jìn)行熱處理后如果有變形，應(yīng)靜壓校平，不可以敲打校正，否則會(huì)使試片的內(nèi)應(yīng)力增加，影響試驗(yàn)結(jié)果。
②為了防止應(yīng)力影響，電鍍前應(yīng)進(jìn)行去應(yīng)力，在電鍍后則要進(jìn)行除氫處理，這時(shí)檢測(cè)的是殘余氫脆的影響。
③彎曲試驗(yàn)時(shí)所用的軸的直徑的選用很重要，因?yàn)樵u(píng)價(jià)這種試驗(yàn)結(jié)果的量化指標(biāo)與軸徑有關(guān)，對(duì)于小的軸徑，則彎曲至斷裂的次數(shù)就會(huì)少一些，具體選用什么軸徑要通過(guò)對(duì)基體材料的空白試驗(yàn)來(lái)確定，并且在提供數(shù)據(jù)時(shí)要指明所用的軸徑，否則參數(shù)沒(méi)有可比性。
(2)延遲破壞試驗(yàn)延遲破壞試驗(yàn)是一種靈敏度較高的試驗(yàn)方法，適合用于高強(qiáng)度鋼制品的氫脆檢測(cè)。這種氫脆測(cè)試也是在試驗(yàn)機(jī)上進(jìn)行的，所用的試驗(yàn)機(jī)為持久強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)或蠕變?cè)囼?yàn)機(jī)，檢測(cè)試樣在這種試驗(yàn)機(jī)上受到小于破壞程度的應(yīng)力的作用，觀(guān)測(cè)其直到斷裂時(shí)的時(shí)間。如果到規(guī)定的時(shí)間尚沒(méi)有發(fā)生斷裂，即為合格。這種試驗(yàn)需要采用按一定要求制作的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試驗(yàn)棒。并且每次要使用三支同樣條件的試樣平行做試驗(yàn)，以使結(jié)果更為可信。
氫脆試樣棒示意其中關(guān)鍵位就是處于試樣中間軸徑最小的地方(直徑4．5mm士0．05mm)。如果有較為嚴(yán)重的氫脆，斷裂就從此處發(fā)生。試樣應(yīng)先退火后再經(jīng)車(chē)工加工為接近規(guī)定尺寸的初件，經(jīng)熱處理達(dá)到規(guī)定的抗拉強(qiáng)度后，再加工到精確尺寸。試樣在電鍍前要消除應(yīng)力，其工藝與電鍍件的真實(shí)電鍍過(guò)程相同。鍍層的厚度要求在12μm左右。試驗(yàn)所用的負(fù)荷是進(jìn)行空白測(cè)試時(shí)的75％。如果經(jīng)過(guò)200h仍不斷裂，即為合格。
抗氫脆檢測(cè)，氫致開(kāi)裂測(cè)試，HIC檢測(cè)，HIC測(cè)試，氫致開(kāi)裂HIC試驗(yàn)，抗氫脆HIC實(shí)驗(yàn)，南京HIC檢測(cè)，江陰HIC測(cè)試，蘇州HIC試驗(yàn)，常州HIC實(shí)驗(yàn)，氫致開(kāi)裂NACETM0284檢測(cè)，抗氫脆GB/T8650-2006測(cè)試
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