該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI3082型靜電分級(jí)器、3777型納米增強(qiáng)儀以及凝聚粒子計(jì)數(shù)器配套使用,且該分析儀工作流程已經(jīng)被最優(yōu)化,不但能夠?qū)⑸⒁輷p失降至最低,而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測(cè)量的粒徑分辨率。
 
顆粒物粒徑測(cè)量
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