深圳市禾苗分析儀器有限公司

   深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家以美國xrf測試儀、光譜儀和膜厚分析儀為主要業(yè)務的公司。我們致力于提供有優(yōu)質(zhì)的ROHS儀x2034d9n服務。深圳市禾苗分析儀器有限公司成立于2012-06-05，作為一家社會責任感強的公司，禾苗分析將依托強大的實力，在ROHS測試儀領(lǐng)域內(nèi)樹立最具口碑的品牌形象。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司長期致力于行業(yè)前10的ROHS測試儀、鍍金鍍層測厚儀銷售、rohs測試儀廠家、xrf和鋁等商務服務，多年來，禾苗分析始終憑借良好的人脈關(guān)系、有效的資源整合、優(yōu)質(zhì)的服務態(tài)度，為眾多的客戶提供一站式RoHS檢測產(chǎn)品及服務。禾苗分析擁有一支專業(yè)技術(shù)隊伍，多年從事相關(guān)商務服務，具有非常豐富的專業(yè)經(jīng)驗。同時，禾苗分析也非常注重人才的培養(yǎng)，通過機制和提供培訓機會，形成適合人才成長的環(huán)境。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀在什么條件下測量更準確 基體金屬特性 對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng)如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。 邊緣效應 不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。 曲率 不應在試件的彎曲表面上測量。 讀數(shù)次數(shù) 通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。 表面清潔度 測量前，應清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。 膜厚測試儀自制鐵基情況及方法 膜厚測試儀在一些精確測量時需用戶自制鐵基，這樣測量情況主要有以下幾種： a、測量精度要求甚高； b、材質(zhì)（或?qū)Т怕剩┡c儀器鐵基相差甚遠； c、工件幾何形狀復雜； d、工件厚度在2mm以下。 用下述方法自制鐵基: a、用與被測工件厚度相同、材質(zhì)相同的剛才做成方形或圓形鐵基，滄州歐譜要求表面平整光潔、無涂層或銹蝕，尺寸不小于本儀器所具備鐵基尺寸； b、用已清除污物、表面光潔、無涂層的工件毛坯做鐵基。以同種工件毛坯作鐵基校正是最好的方法。詳情參考滄州歐譜檢測儀器有限公司膜厚測試儀儀器使用說明書。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司的誠信、實力和產(chǎn)品質(zhì)量獲得業(yè)界的認可。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導和業(yè)務洽談。更多詳細信息請訪問：heleex